盐密测试仪操作常见故障及原因

1.盐密测试仪开裂的原因是：瓷件表面和内部存在制造缺陷；闪络会因局部过热导致瓷器部件损坏；涂层硅脂老化产生漏电流和局部放电；瓷器表面的釉剂剥落；裙边裂纹；紧密的紧固硬件使瓷器部件承受高应力；被外力损坏；由于与内部设备的协调性差，瓷衬套损坏。

2.爬电距离走线的原因是绝缘表面因放电碳化而形成路径，逐渐导致闪络和接地短路事故。

3.漏油的原因是严重的漏油，如密封材料的压裂，错位，老化，会造成外壳的绝缘击穿，还可能对设备造成损坏。

4.电晕是由于端子配件上突出部分的放电，表面放电的绝缘表面污染，裂纹和内部缺陷引起的。

5.端子过热，变色，由于连接不良而缩短绝缘寿命。

盐密测试仪又叫：绝缘子盐密仪，盐密仪，绝缘子盐密测试仪，盐密度测试仪